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金銀礦銅鉛鋅礦釩礦鎢鉬錫礦化學(xué)成分檢測(cè)儀 X射線熒光光譜儀（XRF）：只能對(duì)礦石成分進(jìn)行定性分析，定量分析的話，偏差很大，優(yōu)點(diǎn)在于攜帶方便，測(cè)試方便，對(duì)于測(cè)試數(shù)據(jù)要求不高的情況下可以考慮購(gòu)買使用；高頻電感耦合等離子發(fā)射光譜儀（ICP-AES）和原子吸收光譜儀（AAS）這兩款測(cè)試設(shè)備都是實(shí)驗(yàn)室使用的高精密設(shè)備，測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定，測(cè)試數(shù)據(jù)精度高，缺點(diǎn)在于它們只能放在實(shí)驗(yàn)室中使用.

紅土鎳礦中的鎳化學(xué)元素成分含量檢測(cè)儀 礦石化學(xué)元素成分檢測(cè)設(shè)備主要有： X射線能量色散譜儀(EDS)，X射線波長(zhǎng)色散譜儀(WDS)， X射線光電子能譜儀(XPS)，高頻電感耦合等離子發(fā)射光譜儀（ICP-AES），原子吸收光譜儀（AAS），X射線熒光光譜儀（XRF），碳硫儀，氮氧儀，分光光度計(jì)等高精密儀器設(shè)備。

DZT 0396.2-2022 鎳礦石化學(xué)分析方法儀器 礦石一般可以分為： 鐵礦(赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 其它礦類

17413.1-2010鋰礦石化學(xué)分析方法 我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）等。

測(cè)試化驗(yàn)地礦石成分含量?jī)x器機(jī)器設(shè)備 測(cè)試礦石成分含量機(jī)器設(shè)備機(jī)身采用防滑耐磨流線型設(shè)計(jì)，十分輕盈，便于攜帶和運(yùn)輸，同礦石時(shí)集成了前沿的科研創(chuàng)新。 檢測(cè)礦石化學(xué)成分儀器設(shè)備工業(yè)電阻觸摸屏，相比電容屏具有更優(yōu)異的背光性能，在野外強(qiáng)光下依然清晰可見，同時(shí)免除野外特殊環(huán)境脫手套操作的危險(xiǎn)性。

礦石成分分析儀 礦石成分分析機(jī)器設(shè)備只需將礦石分析儀直接接觸待測(cè)礦石表面，無須等待和花費(fèi)時(shí)間即可現(xiàn)場(chǎng)確定礦石等級(jí)。 分析礦石成分儀器設(shè)備被檢測(cè)的樣品的對(duì)象可以是礦石、巖石、礦渣、碎片;土壤、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層;廢水、廢油等等的固體、液體物質(zhì)。

銅礦石含量檢測(cè)儀器 便攜式古陶瓷鑒定檢測(cè)機(jī)器設(shè)備可分析從從鎂礦（Mg）到钚礦（Pu）之間的所有83種自然土壤。

礦石分析儀器 礦石成分分析儀 已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、采礦、金屬、土壤、環(huán)境、考古、木材、電子、醫(yī)藥、環(huán)保、啤酒、電力、石化、玩具、大型工程、鍋爐制造、再生資源金屬、玻璃的回收、刑事證據(jù)鑒定等各種不同領(lǐng)域的日常分析。