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電鍍膜厚測(cè)試儀 電鍍膜厚測(cè)試機(jī)器設(shè)備設(shè)計(jì)更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動(dòng)，輻射安全于國(guó)標(biāo)GBZ115-2002要求。 測(cè)試電鍍層膜厚儀器設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)一鍵操作功能，準(zhǔn)直器自動(dòng)切換，濾光片自動(dòng)切換，開蓋隨意自動(dòng)停，樣品測(cè)試照片自動(dòng)拍照、自動(dòng)保存，測(cè)試報(bào)告自動(dòng)彈出，供應(yīng)商信息自動(dòng)篩選和保存。

電鍍膜厚分析儀 電鍍膜厚儀器采用分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測(cè)器），測(cè)量精度和測(cè)量結(jié)果業(yè)界。 分析膜厚儀器設(shè)備 X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用，提了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無(wú)損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)。

電鍍膜厚檢測(cè)儀器 電鍍膜厚化驗(yàn)機(jī)器設(shè)備采用了新技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無(wú)鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度，測(cè)試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。 測(cè)試電鍍膜厚儀器設(shè)備樣品移動(dòng)設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點(diǎn)測(cè)試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷，有助于提升效率。 設(shè)計(jì)更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動(dòng)，輻射安全于國(guó)標(biāo)GBZ115-2002要求。